SiC晶圆缺陷检测/评审装置
SICA88
兼具表面检测与光致发光(PL)检测的一体化检测设备
特点
同时高速高灵敏检测表面缺陷及BPD、SF等晶体缺陷
高分辨率评审图像与自动缺陷分类(ADC)实现高精度分类
支持AGV/OHT等工厂自动化,便于导入量产线
应用
SiC裸晶圆/外延晶圆的出货与来料检验
SiC外延生长工艺的监控
SiC抛光工艺的监控
SiC器件制造工艺的管理
SiC功率器件已广泛应用于空调、光伏系统、轨道交通等领域,并有望在电动汽车等方面进一步普及,市场稳步扩大。然而,由于制造难度高,生产过程中仍会出现晶体缺陷等各种问题,在质量保证与成本方面面临较大挑战。晶圆制造商需要提升晶圆品质并加强质量管理,器件制造商则需要提高良率并进一步降低成本。
SICA88将基于共焦DIC光学的表面检测与PL检测集成于同一平台。表面检测可发现晶圆表面划痕与外延缺陷;PL检测可同时检测并高精度分类外延层中的基底面位错(BPD)与堆垛缺陷(SF)。在保持BPD检测的同时,实现了相比以往SICA6X翻倍的处理能力。该设备可作为晶圆/外延/器件各工艺的过程监控工具,用于追溯缺陷成因,并通过晶圆分级降低工艺成本、提升器件良率。