EUV掩模检测装置

ACTIS A150

世界首款EUV图案掩模缺陷检测装置

特点

EUV光源(波长13.5nm)相比传统DUV光源,大幅提升缺陷检测灵敏度

采用与晶圆曝光机相同波长的光源进行检测(Actinic检查),高灵敏度检测曝光时会转印的缺陷

可检测带保护膜的EUV掩模

应用

EUV掩模制造工艺中的缺陷检测

晶圆工厂中EUV掩模的验收检查以及定期的质量确认检查

ACTIS A150

EUV掩模缺陷检测装置ACTIS "A150"是利用多年来积累的掩模图案检测技术和EUV光检测技术的世界首款EUV图案掩模缺陷检测装置。由于采用短波长EUV光的检测方式,相比传统使用DUV激光的掩模检测机,缺陷检测灵敏度大幅提升,并且可以检测EUV掩模特有的可转印相位缺陷。