EUVマスク検査装置
ACTIS A150
世界初のEUVパターンマスク欠陥検査装置
特長
EUV光源(波長13.5nm)により、従来のDUV光源に比べ、欠陥検出感度を大幅に向上
ウェハ露光機と同波長の光源による検査(アクティニック検査)により、露光時に転写する欠陥を高い感度で検出
ペリクル付きEUVマスクの検査が可能
用途
EUVマスク製造工程における欠陥検査
ウェハファブにおけるEUVマスクの受入検査および定期的な品質確認検査
EUV マスク欠陥検査装置 ACTIS「A150」は、長年培ったマスクパターン検査技術とEUV 光による検査技術を利用した世界初のEUVパターンマスク欠陥検査装置です。波長の短いEUV光を用いた検査方式を採用しているため、従来のDUV レーザーを用いたマスク検査機に比べ圧倒的に欠陥検出感度が高く、さらに EUV マスク特有の転写性位相欠陥の検出も可能です。